e2008-coverglass-corner-chips
当需要对每个芯片进行盖板玻璃角部检测判定时使用
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当需要对每个芯片进行盖板玻璃角部检测判定时使用
根据ECSS-E-ST-31C第4
管理基于位置的调度内容,遵循 ECSS-E-ST-70-41C 第 6
用于在编制和维护符合 ECSS-E-ST-10-02C 第 5
用于根据 ECSS-E-ST-20C 第 7
在根据ECSS-E-ST-20-01C第6
在根据ECSS-E-ST-10C第5
在根据ECSS-E-ST-10C附录B为欧洲航天项目生成或验证任务描述文档(MDD)时,需检查以下内容:确保包含必需章节(目标、任务声明、任务场景、约束条件);任务声明中应包含目标/指标/时间范围;任务场景各阶段应按发射至处置的顺序排列;所…
当辐照度扫描必须转化为线性度判定时使用
审核EMC抗扰度报告是否符合其约定的通过判据
在计划进行此类辐照或读取数据时使用
对 ECSS-E-ST-70-41C 第 6
用于审核 ECSS-E-ST-20C 第 4
根据ECSS-Q-ST-10-09 附录A的规范性数据项,生成或验证不合格报告
在根据 ECSS-E-ST-32C 附录 L 确定航天器或仪器安装接口的结构对准预算时,需执行以下操作:识别对准误差的每一个贡献因素——包括制造公差、热弹性变形、重力释放变形、载荷引起的挠度以及测量不确定度;为各因素分配灵敏度系数;通过平方…
根据 ECSS-E-ST-50C Rev
用于根据 ECSS-E-ST-10C 标准制定或维护欧洲航天项目的系统工程计划(SEP):确定生命周期事件何时触发 SEP 修订,检查下级计划(产品保证、装配集成与验证(AIV)、风险管理、配置管理、软件管理)是否与 SEP 基线保持一致,…
用于根据 ECSS-E-ST-10-04C 附录 B
根据 ECSS-E-ST-40-08C 第 5
协调一项ECSS热试验,使其与所配套的装备级试验要求相一致