arm-vap-radclss

ARM 提取雷达列与原位传感器（RadCLss）（radclss）——增值产品技术报告参考。包括反演算法、报告量（径向多普勒速度、谱宽、差分反射率、差分相位、交叉极化相关比）、反演设置、输入依赖项、嵌入式质量控制覆盖范围，以及记录的反演无效或有偏差的失效模式和条件。包含一个已验证的 ARM 实时示例文件（bnfcsapr2radclssS3.c2）及真实文件的变量清单。适用于处理 radclss 数据时，判断应使用该增值产品还是其输入仪器数据来回答问题、解释其变量含义，或判断某特征是否为反演伪影。类别：云特性。触发词：radclss、Extracted Radar Columns and In-Situ Sensors (RadCLss)、bnfcsapr2radclssS3.c2、Radial Doppler Velocity、Spectral Width、Differential Reflectivity、Differential Phase、Cloud Properties。

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