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arm-instrument-ceil

ARM 云高仪 (ceil) - 基于手册的仪器参考。包括测量原理、报告量(后向散射、first_cbh、second_cbh、third_cbh、vertical_visibility、bl_height_1、bl_height_2、bl_height_3)、技术规格、校准方法、嵌入式质量控制覆盖范围,以及由仪器负责人记录的已知伪影和故障模式。包含一个已验证的 ARM 实时示例(sgpceil10mC1.b1)及实际文件中的变量清单。适用于处理云高仪数据、解释其变量或质量控制标志、判断某伪影是否为仪器所致,或为该项测量选择合适的数据流。类别 - 云属性。触发词 - ceil, Ceilometer, sgpceil10mC1.b1, Backscatter, first_cbh, second_cbh, third_cbh, vertical_visibility, bl_height_1, Cloud Properties, Vaisala CL31(前身为 Belfort 7013C 和 Vaisala CT25K),CEIL,DQPR。

模型生成摘要(rules/v1 · 2026-11-14 19:23):ARM 云高仪 (ceil) - 基于手册的仪器参考
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