q6005-pre-seal-burn-in

计算一个开放式混合微电路封装在偏置热浸泡运行中实际交付的等效时间，并根据ECSS-Q-ST-60-05第10.3.3条款判断该单元是否通过测试。适用于需要对老化日志进行分级而非简单计数的情况：通过阿伦尼乌斯关系将试验箱运行时间转换为参考条件下的等效小时数，逐段检验是否在允许范围内，剔除因中断时间过长导致器件冷却前的无效小时数，将每个监测参数的漂移量与其允许值进行加权比较，最终返回一个综合判定结果。触发条件：ecss、q-st-60-05、封盖前老化、开放式封装热浸泡、老化阿伦尼乌斯等效小时、老化中断重启、浸泡前后参数漂移、封盖前老化判定。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-14 00:25）：计算一个开放式混合微电路封装在偏置热浸泡运行中实际交付的等效时间，并根据ECSS-Q-ST-60-05第10
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v1	2026-11-14 00:22	d09853af	可取

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