q6005-active-chip-user-lot-testing

对买方在每一批交付的活性芯片上执行的抽样和验收测试进行评估。当需要处置收货日志时：根据批量计划确定样本量，读取其对应的接收数，将小批量合并为全检，将发现的不合格品数量与该接收数进行比对，计算在给定缺陷总体下批次仍被接收的精确超几何概率，确认每次交付均有独立记录，并标记在两次交付中重复使用的批次标识符。触发条件：ecss、q-st-60-05、user-lot-acceptance-testing、die-delivery-sampling-plan、user-lot-attribute-sample-size、user-lot-acceptance-number、hypergeometric-acceptance-probability、receiving-log-reconciliation、die-lot-identifier-reuse。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-14 00:24）：对买方在每一批交付的活性芯片上执行的抽样和验收测试进行评估
这是模型对公开材料的总结，不是官方声明，请以原链内容为准。

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版本	存档时间	内容哈希	内容
v1	2026-11-14 00:22	a2b2de88	可取

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