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q6013-discrete-semiconductor-test-table
当分立半导体批次的测试表需要给出“接收”或“保留”判定时使用。判断分立半导体测试矩阵是否符合其器件族对应的 ECSS-Q-ST-60-13C 表 8-3 方案：确定器件族并拒绝未知族别；确认二极管、晶体管或光耦所需的每一组均仅声明一次；将每一行的失效数量与其接收数进行比对；并根据参数劣化方向判断每个测量参数是否发生漂移，从而捕捉到反向漏电流上升、增益双向偏移以及光耦电流传输比下降等情况。触发条件：ecss, q-st-60-13c-table-8-3, discrete-semiconductor-test-matrix, diode-transistor-optocoupler-family, parameter-drift-direction, current-transfer-ratio-degradation, reverse-leakage-drift-limit, semiconductor-row-accept-number。
模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-13 22:00）：当分立半导体批次的测试表需要给出“接收”或“保留”判定时使用
这是模型对公开材料的总结，不是官方声明，请以原链内容为准。
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存档时间线
| 版本 | 存档时间 | 内容哈希 | 内容 |
|---|---|---|---|
| v1 | 2026-11-13 21:58 | 69066543 | 可取 |
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