e2008-blocking-diode-humidity-process

在准备或审核阻塞二极管湿度试验箱密封时，在浸湿开始前使用。根据ECSS-E-ST-20-08C第12.6.4.1.2条款，验证有多少太阳阵列阻塞二极管被密封在常压试验箱中以进行湿度暴露：通过压力衰减保持法推导密封泄漏率，并将其换算为每天交换的箱内体积数；保持封闭体积处于其常压范围内；核对实际密封的器件与申报批次是否一致；检查夹具周围剩余的自由体积；并保持密封验证驻留时间和暴露持续时间。触发条件：ecss、e-st-20-electrical-scope、e-st-20-08c-clause-12-6-4-1-2、阻塞二极管湿度试验箱密封、阻塞二极管试验箱密封泄漏率、阻塞二极管密封批次数量、阻塞二极管试验箱自由体积、阻塞二极管湿度暴露持续时间。

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