e2006-charge-exchange-ion-sputtering

用于验证航天器表面因侵蚀电荷交换离子溅射而导致的损耗是否保持在协议允许范围内，依据 ECSS-E-ST-20-06C 第 11.2.4 条款：将暴露情况归类为直接束流撞击、电荷交换反流或无离子暴露；将收集到的离子电流密度转换为离子数通量；评估表面材料在入射能量下的近阈值溅射产额；将通量、产额和原子数密度结合计算得出侵蚀速率；将该速率对暴露时间进行积分以获得侵蚀深度；并将该深度与协议允许值及涂层厚度余量进行比对。触发条件：ecss、e-st-20-electrical-scope、charge-exchange-ion-erosion、sputter-yield-threshold、ion-number-flux、surface-erosion-depth、coating-thickness-reserve、sputtered-material-redeposition。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-13 19:50）：用于验证航天器表面因侵蚀电荷交换离子溅射而导致的损耗是否保持在协议允许范围内，依据 ECSS-E-ST-20-06C 第 11
这是模型对公开材料的总结，不是官方声明，请以原链内容为准。

存档时间线

版本	存档时间	内容哈希	内容
v1	2026-11-13 19:49	a7506afc	可取

版本索引永久保留；内容副本只保留最新 1 份，更早版本仅留索引与哈希（存档时间线的证据链不会因此断裂）。

下载存档内容副本

纠错与举报（发现条目失效、署名有误或涉及侵权？）

提交举报 / 纠错

侵权举报经核验成立后，我们会即时下线该条目并删除已存的内容副本。