e2008-blocking-diode-qualification-testing

用于起草或审查阻塞二极管鉴定试验矩阵、样本分配或批次大小时。判断阻塞二极管鉴定活动是否满足ECSS-E-ST-20-08C第12.5.5条对每项试验规定的最小样本数量要求：拒绝声明无最小样本量的方案；将每项试验已分配样本数与应分配样本数进行比对，若分配量恰好等于最低允许值，则予以保留；对无人预订但仅有一项试验样本不足的情况，暂停该应做而未做的试验；将样本错误分配至本无需进行的试验项目；在计算破坏性试验样本消耗时，仅计入最大单次存活样本量；最终批次规模应基于该最大单次存活样本量及其备用样本量确定。触发条件：ecss、e-st-20-08c、阻塞二极管鉴定最小样本量、阻塞二极管鉴定试验分配、阻塞二极管破坏性样本消耗、阻塞二极管鉴定批次规模、阻塞二极管鉴定试验覆盖范围。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-13 13:32）：用于起草或审查阻塞二极管鉴定试验矩阵、样本分配或批次大小时
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版本	存档时间	内容哈希	内容
v1	2026-11-13 13:31	ce1f4f4f	可取

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