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e2008-blocking-diode-qualification-samples
当提交给阻塞二极管鉴定活动的样品需要证明其与所声明的工艺一致时，使用此规则。验证进入阻塞二极管鉴定的每一个样品均按照工艺识别文件 ECSS-E-ST-20-08C 第 12.5.4 条的要求制造：拒绝任何无参考、无版本或无参数范围的描述；确保每个样品均符合当时有效的版本；识别出制造时间早于该版本的样品；将每个声明的制造参数与其对应的允许范围进行比对，即使其值处于允许极限；保留虽无记录但存在漂移的参数；并对每个样品单独命名，而非仅标注首个样品。 触发条件：ecss, e-st-20-08c, blocking-diode-qualification-sample-conformance, blocking-diode-process-identification-document, blocking-diode-sample-build-parameter-band, blocking-diode-sample-issue-match, blocking-diode-sample-build-chronology。
模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-13 13:32）：当提交给阻塞二极管鉴定活动的样品需要证明其与所声明的工艺一致时，使用此规则
这是模型对公开材料的总结，不是官方声明，请以原链内容为准。
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存档时间线
| 版本 | 存档时间 | 内容哈希 | 内容 |
|---|---|---|---|
| v1 | 2026-11-13 13:31 | bc13f7c3 | 可取 |
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