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e2006-internal-electrostatic-discharge-overview

用于评估暴露于深层介质充电环境下的内部部件和材料,以防止内部静电放电(Internal Electrostatic Discharge),依据 ECSS-E-ST-20-06C 第 9.1 条款:通过局部屏蔽厚度衰减高能电子通量,筛选出低于内部充电筛选阈值的部件,将剩余部件逐一归类为体介质、未接地导体或接地导体,然后分别检查其稳态埋藏电荷电场是否超过介质电场限值、其储存的放电能量是否超过损伤限值,或其泄放时间常数是否满足暴露时间要求,并确认所记录的验证措施确实覆盖了该类别。触发条件:ecss、e-st-20-electrical-scope、e-st-20-06c-clause-9-1、internal-electrostatic-discharge、deep-dielectric-charging、energetic-electron-flux、buried-charge-field、floating-conductor-bleed-path、radiation-induced-conductivity、shield-thickness-attenuation。

模型生成摘要(rules/v1 · 2026-11-13 11:18):用于评估暴露于深层介质充电环境下的内部部件和材料,以防止内部静电放电(Internal Electrostatic Discharge),依据 ECSS-E-ST-20-06C 第 9
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