e2008-diode-human-body-esd

用于计划或审核人体静电放电（ESD）步进应力对保护二极管的测试。评估保护二极管在模拟带电人体接触其端子时的静电放电下是否存活，依据 ECSS-E-ST-20-08C 第 9.6.16 条款：保持放电网络电容和串联电阻在其规定范围内，推导阶跃电压产生的峰值电流、衰减常数、转移电荷和存储能量，按照几何步进阶梯进行脉冲计数测试（包含正负两种极性），测量串联路径上的反向漏电流和正向电压漂移，并将存活等级归类至耐受带。触发词：ecss, e-st-20-08c-clause-9-6-16, protection-diode-human-body-esd, diode-hbm-discharge-network, diode-hbm-peak-current, diode-hbm-stored-energy, diode-hbm-withstand-band, diode-esd-leakage-drift, diode-esd-step-stress-ladder。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-13 11:17）：用于计划或审核人体静电放电（ESD）步进应力对保护二极管的测试
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v1	2026-11-13 11:16	b2727a4c	可取

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