e2008-blocking-diode-failure-criteria

当需要将阻塞二极管子组测试结果转换为逐件失效判定时，依据ECSS-E-ST-20-08C第12.7.1条款，确定子组测试及后续检验中哪些平面阻塞二极管被判为失效：拒绝采用无规范引用依据的判据集；针对每个参数，以其允许漂移范围衡量参数退化情况；将测试后读数与其自身绝对限值作为独立分支进行比对；将不再具备反向阻断能力的结与不再正向导通的结视为两种不同的失效模式；将低于参考偏置下测得的反向读数视为无效读数；并将失效比例与其允许额度进行权衡。触发条件：ecss、e-st-20-08c-clause-12-7-1、阻塞二极管子组测试失效、阻塞二极管失效模式、阻塞二极管参数漂移允许量、阻塞二极管绝对限值超限、阻塞二极管反向阻断能力丧失、阻塞二极管反向偏置参考。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-13 06:26）：当需要将阻塞二极管子组测试结果转换为逐件失效判定时，依据ECSS-E-ST-20-08C第12
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v1	2026-11-13 06:25	e338780a	可取

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