e2008-blocking-diode-adherence-purpose

在平面阻断二极管粘接活动被规划或辩护时使用。根据ECSS-E-ST-20-08C第12.6.4.2.1条款，确定为何仅在存在触点处验证平面阻断二极管的触点连接：首先确定构建状态，将台面或集成部件置于条款范围之外，将裸金属化区域排除在检查之外，将阵列功率中一个已开启的串联连接成本分摊，将接头需承受的服务暴露加权为一个指数，在并联二极管承载整串时缓解其后果，将每项暴露映射至记录该参数的项，并最终得出适用性判定。触发条件：ecss、e-st-20-electrical-scope、e-st-20-08c-clause-12-6-4-2-1、planar-blocking-diode-contact-presence、planar-blocking-diode-attachment-criticality、blocking-diode-string-loss-fraction、blocking-diode-attachment-evidence-coverage。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-12 22:37）：在平面阻断二极管粘接活动被规划或辩护时使用
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v1	2026-11-12 22:35	4187dcdb	可取

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