e2008-blocking-diode-esd-robustness

当计划进行阻断二极管人体接触ESD鲁棒性应力测试或审查其记录时使用。评估阻断二极管在带电操作人员触摸其端子时是否能承受放电，依据ECSS-E-ST-20-08C第12.6.15条款：保持放电电容和串联电阻在其规定范围内，推导每个阶梯电压产生的峰值电流、衰减常数、转移电荷和存储能量，从最低电压开始以两种极性和每个计划的脉冲逐级递升，将反向漏电流和正向压降与器件自身应力前基准进行比较，仅认可最高连续通过的未中断等级序列，将其归入耐受带，并结合处理环境留出裕量进行评估。触发条件：ecss、e-st-20-08c-clause-12-6-15、blocking-diode-human-contact-esd、blocking-diode-esd-withstand-band、blocking-diode-esd-leakage-drift、blocking-diode-discharge-network-band、blocking-diode-esd-step-ladder。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-12 22:36）：当计划进行阻断二极管人体接触ESD鲁棒性应力测试或审查其记录时使用
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版本	存档时间	内容哈希	内容
v1	2026-11-12 22:35	b480f23e	可取

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