q7005-direct-surface-ir-measurement

根据ECSS-Q-ST-70-05C标准，通过直接红外反射法评估可接触硬件表面的有机污染情况。适用于无法进行溶剂采样或需要非接触式测量的情况，且需将相对于同种基材洁净参考区域的漫反射光谱转换为膜厚和面密度。自动选择表面实际支持的漫反射技术，利用入射角产生的双程光程增强效应，拒绝在低反射率基材上进行掠入射测量，并标记从不同材料区域获取的参考区域。触发条件：ecss、q-st-70-05、direct-surface-ir-reflection（直接表面红外反射）、grazing-incidence-reflection-absorption（掠入射反射吸收）、diffuse-reflectance-contamination（漫反射污染检测）、attenuated-total-reflection-sampling（衰减全反射采样）、incidence-angle-path-enhancement（入射角光程增强）、contamination-film-thickness（污染膜厚）。

模型生成摘要（rules/v1 · 2026-11-12 15:08）：根据ECSS-Q-ST-70-05C标准，通过直接红外反射法评估可接触硬件表面的有机污染情况
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v1	2026-11-12 15:07	cacf454a	可取

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